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 2002년 제68회 비파괴검사_기술사_필기_기출문제 |
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| 키워드 : |
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| 소개글 |
2002년 제68회 비파괴검사_기술사_필기_기출문제 |
| 요약 |
2002년도 기술사 제68회
분야 : 금 속 자격종목 : 비파괴검사
<제 1 교 시>
※ 다음 13문제중 10문제를 선택하여 설명하십시오. (각10점)
1. 할로겐 다이오드 검출기 프로브시험(Halogen Diode Detector Probe Test)란 무엇이며, 그 응용 예를 기술하시오.
2. 자분탐상시험(MT)에 사용되는 요크(Yoke) 에 대한 요크 리프팅 파워시험(Yoke Lifting Power Testing)에 관하여 기술하시오.
3. 와전류탐상시험(ET)에 있어서 표피효과(Skin Effect)란 무엇이며, 그 의 발생원인에 대해 기술하시오.
4. 적열취성(赤熱脆性, Red shortness)이란 무엇이며, 그의 발생원인에 대해 기술하시오.
5. 방사선투과시험(RT)에 있어서 산란방사선을 방지하기 위한 방법을 들고 기술하시오.
6. 방사선동위원소중 이테르븀(Ytterbium, Yb169)을 사용해야 한다면 그의 적용성에 대해 기술하시오.
7. 방사선의 선량률 측정에 관련되는 전리함(電離函, Ionization Chamber)의 기능과 사용에 대해 기술하시오.
8. 판파(Plate Wave)란 무엇이며, 소재의 피바괴검사 이용성에 대하여 기술하시오.
9. 용접기의 전원특성중 수하특성(垂下特性, Drooping characteristics)이란 무엇이며, 그의 적용성에 대해 기술하시오.
10. 노치감도(Notch sensitivity Test)란 무엇이며, 이를 파악하기 위한 재료시험에 대해 기술하시오.
11. 고온균열(Hot Cracking)이란 무엇이며, 그의 발생원인에 대해 기술하시오.
12. 자분탐상시험(MT)에 있어서 의사지시(疑似指示, Non-Relevant Indication)란 무엇이며, 구별방법에 대해 기술하시오.
13. 단조품에서 나타나는 백점(白點, Flakes)란 무엇이며, 발생원인에 대하여 기술하시오.
분야 : 금 속 자격 |
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